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https://repositorio.ufba.br/handle/ri/14664
metadata.dc.type: | Artigo de Periódico |
Título : | Structural complexity of disordered surfaces: analyzing the porous silicon SFM patterns |
Otros títulos : | Physica A: Statistical Mechanics and its Applications |
Autor : | Rosa, R. R. Baroni, M. P. M. A. Zaniboni, G. T. Silva, A. Ferreira da Roman, L. S. Pontes, J. Bolzan, M. J. A. |
metadata.dc.creator: | Rosa, R. R. Baroni, M. P. M. A. Zaniboni, G. T. Silva, A. Ferreira da Roman, L. S. Pontes, J. Bolzan, M. J. A. |
Resumen : | This paper introduces a relative structural complexity measure for the characterization of disordered surfaces. Numerical solutions of 2d+1 KPZ equation and scanning force microscopy (SFM) patterns of porous silicon samples are analyzed using this methodology. The results and phenomenological interpretation indicate that the proposed measure is efficient for quantitatively characterize the structural complexity of disordered surfaces (and interfaces) observed and/or simulated in nano, micro and ordinary scales. |
Palabras clave : | Disordered surfaces Structural complexity Gradient pattern analysis Wavelet multiresolution analysis Euler characteristic KPZ equation Porous silicon |
metadata.dc.rights: | Acesso Aberto |
URI : | http://repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/14664 |
Fecha de publicación : | 2007 |
Aparece en las colecciones: | Artigo Publicado em Periódico (FIS) |
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