1. Universidade Federal da Bahia
  2. Instituto de Física (FIS)
  3. Artigo Publicado em Periódico (FIS)
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorRosa, R. R.-
dc.contributor.authorBaroni, M. P. M. A.-
dc.contributor.authorZaniboni, G. T.-
dc.contributor.authorSilva, A. Ferreira da-
dc.contributor.authorRoman, L. S.-
dc.contributor.authorPontes, J.-
dc.contributor.authorBolzan, M. J. A.-
dc.creatorRosa, R. R.-
dc.creatorBaroni, M. P. M. A.-
dc.creatorZaniboni, G. T.-
dc.creatorSilva, A. Ferreira da-
dc.creatorRoman, L. S.-
dc.creatorPontes, J.-
dc.creatorBolzan, M. J. A.-
dc.date.accessioned2014-02-21T18:41:43Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/14664-
dc.descriptionTexto completo: acesso restrito. p. 666-673pt_BR
dc.description.abstractThis paper introduces a relative structural complexity measure for the characterization of disordered surfaces. Numerical solutions of 2d+1 KPZ equation and scanning force microscopy (SFM) patterns of porous silicon samples are analyzed using this methodology. The results and phenomenological interpretation indicate that the proposed measure is efficient for quantitatively characterize the structural complexity of disordered surfaces (and interfaces) observed and/or simulated in nano, micro and ordinary scales.pt_BR
dc.language.isoenpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.sourcehttp://dx.doi.org/10.1016/j.physa.2007.08.044pt_BR
dc.subjectDisordered surfacespt_BR
dc.subjectStructural complexitypt_BR
dc.subjectGradient pattern analysispt_BR
dc.subjectWavelet multiresolution analysispt_BR
dc.subjectEuler characteristicpt_BR
dc.subjectKPZ equationpt_BR
dc.subjectPorous siliconpt_BR
dc.titleStructural complexity of disordered surfaces: analyzing the porous silicon SFM patternspt_BR
dc.title.alternativePhysica A: Statistical Mechanics and its Applicationspt_BR
dc.typeArtigo de Periódicopt_BR
dc.identifier.numberv. 386, n. 2pt_BR
dc.embargo.liftdate10000-01-01-
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