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https://repositorio.ufba.br/handle/ri/8705
metadata.dc.type: | Artigo de Periódico |
Título : | The refractive index enhancement at Si/Si O2 interfaces |
Otros títulos : | Superlattices and Microstructures |
Autor : | Costa, E. A. Guimarães Mota, F. de Brito Silva, A. Ferreira da |
metadata.dc.creator: | Costa, E. A. Guimarães Mota, F. de Brito Silva, A. Ferreira da |
Resumen : | A polarization catastrophe is predicted for the refractive index of an inversion layer in a Si/Si O2 Metal - Oxide - Semiconductor Field-Effect Transition (MOSFET). The results detect a metal non-metal transition at a certain impurity critical concentration. |
URI : | http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8705 |
Fecha de publicación : | 1993 |
Aparece en las colecciones: | Artigo Publicado em Periódico (FIS) |
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