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metadata.dc.type: Artigo de Periódico
Título : The refractive index enhancement at Si/Si O2 interfaces
Otros títulos : Superlattices and Microstructures
Autor : Costa, E. A. Guimarães
Mota, F. de Brito
Silva, A. Ferreira da
metadata.dc.creator: Costa, E. A. Guimarães
Mota, F. de Brito
Silva, A. Ferreira da
Resumen : A polarization catastrophe is predicted for the refractive index of an inversion layer in a Si/Si O2 Metal - Oxide - Semiconductor Field-Effect Transition (MOSFET). The results detect a metal non-metal transition at a certain impurity critical concentration.
URI : http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8705
Fecha de publicación : 1993
Aparece en las colecciones: Artigo Publicado em Periódico (FIS)

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