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https://repositorio.ufba.br/handle/ri/8705Registro completo de metadados
| Campo DC | Valor | Idioma |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Costa, E. A. Guimarães | - |
| dc.contributor.author | Mota, F. de Brito | - |
| dc.contributor.author | Silva, A. Ferreira da | - |
| dc.creator | Costa, E. A. Guimarães | - |
| dc.creator | Mota, F. de Brito | - |
| dc.creator | Silva, A. Ferreira da | - |
| dc.date.accessioned | 2013-02-27T16:20:42Z | - |
| dc.date.issued | 1993 | - |
| dc.identifier.issn | 0749-6036 | - |
| dc.identifier.uri | http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8705 | - |
| dc.description | Texto completo: acesso restrito. p.285 | pt_BR |
| dc.description.abstract | A polarization catastrophe is predicted for the refractive index of an inversion layer in a Si/Si O2 Metal - Oxide - Semiconductor Field-Effect Transition (MOSFET). The results detect a metal non-metal transition at a certain impurity critical concentration. | pt_BR |
| dc.language.iso | en | pt_BR |
| dc.source | http://dx.doi.org/10.1006/spmi.1993.1057 | pt_BR |
| dc.title | The refractive index enhancement at Si/Si O2 interfaces | pt_BR |
| dc.title.alternative | Superlattices and Microstructures | pt_BR |
| dc.type | Artigo de Periódico | pt_BR |
| dc.identifier.number | v. 13, n. 3 | pt_BR |
| dc.embargo.liftdate | 10000-01-01 | - |
| Aparece nas coleções: | Artigo Publicado em Periódico (FIS) | |
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