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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorMollicone, M. M.-
dc.contributor.authorDacal, L. C. O.-
dc.contributor.authorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.creatorMollicone, M. M.-
dc.creatorDacal, L. C. O.-
dc.creatorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.date.accessioned2013-02-19T16:29:11Z-
dc.date.issued1996-
dc.identifier.issn0169-4332-
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8542-
dc.descriptionTexto completo: acesso restrito. p.68–72pt_BR
dc.description.abstractIonisation rate-constants in conditions of imaging processes in field ion microscopy are calculated by considering a local electric field that varies along the potential barrier. The results are then compared with previous calculations where the field along the barrier is taken as constant.pt_BR
dc.language.isoenpt_BR
dc.sourcehttp://dx.doi.org.ez10.periodicos.capes.gov.br/10.1016/0169-4332(95)00353-3pt_BR
dc.titleLocal field and potential barrier in tunneling processespt_BR
dc.title.alternativeApplied Surface Sciencept_BR
dc.typeArtigo de Periódicopt_BR
dc.identifier.numberv. 94-95pt_BR
dc.embargo.liftdate10000-01-01-
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