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dc.contributor.authorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.creatorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.date.accessioned2013-01-16T14:42:19Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.issn0169-4332-
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/7911-
dc.descriptionTexto completo: acesso restrito. p. 184–191pt_BR
dc.description.abstractIonisation probabilities per unit of time, for a gas atom in the close vicinity of a supertip-gas field ion source, are analytically calculated and interpreted accordingly with the operational conditions of these devices. The results obtained for realistic values of the local electric field intensities are significantly smaller than the ones said to be expected and necessary for an “instantaneous” ionisation of a gas atom. Considerations about the effect of the local electric field and ionisation probabilities on the beam narrowness and intensity are also done when discussing their dependence on position and direction at the vicinity of the emitter.pt_BR
dc.language.isoenpt_BR
dc.sourcehttp://dx.doi.org/10.1016/S0169-4332(99)00359-1pt_BR
dc.subjectField ionisationpt_BR
dc.subjectCharged particles sourcespt_BR
dc.subjectIon beamspt_BR
dc.subjectWhiskerspt_BR
dc.titleIonisation probabilities in gas field ion sourcespt_BR
dc.title.alternativeApplied Surface Sciencept_BR
dc.typeArtigo de Periódicopt_BR
dc.identifier.numberv. 153, n. 2-3pt_BR
dc.embargo.liftdate10000-01-01-
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