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Universidade Federal da Bahia |
Repositório Institucional da UFBA
Use este identificador para citar ou linkar para este item: https://repositorio.ufba.br/handle/ri/4917
Registro completo de metadados
Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorOliveira, A. C. de-
dc.contributor.authorFreitas Junior, J. A.-
dc.contributor.authorMoore, W. J.-
dc.contributor.authorSilva, A. Ferreira da-
dc.contributor.authorPepe, Iuri Muniz-
dc.contributor.authorAlmeida, J. Souza de-
dc.contributor.authorOsório-Guillén, J. M.-
dc.contributor.authorAhuja, Rajeev-
dc.contributor.authorPersson, C.-
dc.contributor.authorJärrendahl, K.-
dc.contributor.authorLindquist, O. P. A.-
dc.contributor.authorEdwards, N. V.-
dc.contributor.authorWahab, Q.-
dc.creatorOliveira, A. C. de-
dc.creatorFreitas Junior, J. A.-
dc.creatorMoore, W. J.-
dc.creatorSilva, A. Ferreira da-
dc.creatorPepe, Iuri Muniz-
dc.creatorAlmeida, J. Souza de-
dc.creatorOsório-Guillén, J. M.-
dc.creatorAhuja, Rajeev-
dc.creatorPersson, C.-
dc.creatorJärrendahl, K.-
dc.creatorLindquist, O. P. A.-
dc.creatorEdwards, N. V.-
dc.creatorWahab, Q.-
dc.date.accessioned2011-12-20T10:44:16Z-
dc.date.available2011-12-20T10:44:16Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.issn1516-1439-
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/4917-
dc.descriptionp. 43-45,Jan/Feb.pt_BR
dc.description.abstractCalculations of the total dielectric functions and the optical bandgap energy (OBGE) of 4HSiC were performed by the full-potential linear muffin-tin-orbital method. The results are compared to spectroscopic ellipsometry dielectric measurements agreeing closely over in a wide range of energies. The obtained theoretical value of the (OBGE) agrees very closely with the measured ones obtained by transmission and photoacoustic spectroscopies at room temperature performed on 470 µm thick wafer and a 25 µm thick homoepitaxial layer of 4H-SiC samples grown (n-type, Siface) by hot wall CVD.pt_BR
dc.language.isoenpt_BR
dc.sourcehttp://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1516-14392003000100008&lng=en&nrm=isopt_BR
dc.subjectOptical bandgap energypt_BR
dc.subjectwide-bandgap materialpt_BR
dc.subjectSiC polytypespt_BR
dc.subjectComputer simulationpt_BR
dc.titleSpectroscopy studies of 4H-SiCpt_BR
dc.title.alternativeMaterials Researchpt_BR
dc.typeArtigo de Periódicopt_BR
dc.description.localpubSão Carlospt_BR
dc.identifier.numberv. 6, n. 1.pt_BR
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