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dc.contributor.authorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.contributor.authorAndrade, F. F. S.-
dc.contributor.authorSousa, C. T.-
dc.creatorCastilho, Caio Mário Castro de-
dc.creatorAndrade, F. F. S.-
dc.creatorSousa, C. T.-
dc.date.accessioned2013-02-27T16:23:46Z-
dc.date.issued1993-
dc.identifier.issn0169-4332-
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8707-
dc.descriptionTexto completo: acesso restrito. p.97–100pt_BR
dc.description.abstractWe present a model for calculating the field ionization probabilities of an imaging gas molecule in the field ion microscope which simultaneously considers the local enhancement of the electric field and image effects of the nuclear and tunnelling elecytron charges. The results show characteristics comparable with the ones of previous treatment where each effect was separately considered, but corresponding to a narrower ionization zone width.pt_BR
dc.language.isoenpt_BR
dc.sourcehttp://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(93)90299-Qpt_BR
dc.titleLocal field and image effects in field ionization: relative importancept_BR
dc.title.alternativeApplied Surface Sciencept_BR
dc.typeArtigo de Periódicopt_BR
dc.identifier.numberv. 67, n. 1-4pt_BR
dc.embargo.liftdate10000-01-01-
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